高可靠度焊点强化之抗突波绕线电阻技术简介 | 第一電阻電容器股份有限公司

第一電阻的高可靠度焊点强化之抗突波绕线电阻技术简介. 超过56年电阻设计与生产经验.第一電阻(Firstohm)成立于1969年,专营生产制造晶圆贴片电阻器(MELF Resistors)并成为全球少数有技术能力制造圆柱贴片电阻(MELF Resistors)的领导厂商

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高可靠度焊点强化之抗突波绕线电阻技术

超过56年电阻设计与生产经验

高可靠度焊点强化之抗突波绕线电阻技术

本技术白皮书由第一電阻提供,旨在协助客户、研发工程师、采购单位及供应链审查人员,深入理解本专利技术之设计理念、技术架构、所解决之关键问题,以及其于高可靠度电阻与电源保护应用领域之技术价值。


核心专利资讯
专利名称 抗突波的绕线电阻
专利类型 台湾新型专利
专利证书号 M530462
申请日 2014/12/8
公告/授权日 2016/10/11
专利权人 第一電阻電容器股份有限公司(FIRST RESISTOR & CONDENSER CO., LTD.)
发明人 李尚佑(LEE, SHANG YO)
技术领域 绕线电阻焊点可靠度提升技术

注:本文件所载专利资讯依据既有资料整理,实际法律状态请以官方专利资料库为准。

技术背景与问题分析

绕线电阻因具备高功率承受能力与稳定电气特性,广泛应用于工业与电源相关领域。然而,在传统制程中,绕线与端帽(cap)之间的焊接接点仍存在可靠度风险。

本技术由第一電阻研发,应用于绕线电阻之焊点可靠度强化设计,专注解决传统绕线电阻在高突波电流或高能量瞬间冲击下,焊点可能产生失效之问题。

在实际应用中,焊点可能因以下因素产生失效风险:

  • 焊接过程中可能产生假焊或接合不良
  • 焊点结构在高温或长期负载下逐渐劣化
  • 突波电流或高能量瞬间冲击造成机械应力集中
  • 焊点成为整体电阻元件之主要失效点

上述问题将直接影响电阻于高突波与高可靠度应用环境中的稳定性,并可能导致系统性失效风险。

技术解决方案

本专利技术之核心在于于绕线电阻完成焊接后,进一步于焊点表面形成合金电镀强化层。

透过此金属强化结构设计,可有效达成以下效果:

  • 提升焊点机械结构强度
  • 增加焊点接合可靠度
  • 分散突波电流所产生之瞬间应力
  • 降低焊点脆化与断裂风险
  • 提升整体元件于极端条件下之稳定性

此设计概念可视为针对绕线电阻关键失效点所进行之结构性强化技术。

传统焊点结构(左)与专利强化结构(右)之比较,说明两者在焊点覆盖范围与保护电镀配置上的差异。
技术架构说明
技术模组 功能说明
绕线电阻本体 提供电阻值与功率承载能力
焊接接点结构 连接绕线与端帽之关键导电介面
合金电镀强化层 提升焊点机械强度与接合可靠度
抗突波结构设计 强化高能量瞬间冲击下之稳定性
应用领域与市场关联性

本技术主要应用于高可靠度与高突波环境之电子系统,涵盖以下领域:

  • 工业电源供应器(Power Supply)
  • 电池充电与保护系统(Charger / Protection Circuit)
  • 高阶LED 照明驱动系统
  • 电动车与新能源车辆系统(EV Applications)
  • 马达驱动与保护系统
  • 储能与光伏系统(ESS / PV Inverter)
客户价值

本技术可直接对应客户于高可靠度应用中之关键需求:

客户需求 技术对应价值
提升接点可靠度 强化焊点结构完整性
改善突波耐受能力 降低瞬间能量造成之失效
提升产品稳定性 增强长期运作一致性
支援电源保护设计 提升系统安全裕度
降低维修与失效风险 减少关键接点故障率
技术摘要

本专利(M530462)为一项应用于绕线电阻焊点可靠度提升之关键技术。透过于焊点表面导入合金电镀强化层,有效改善传统绕线电阻在突波电流或高能量冲击条件下可能产生之焊点脆弱与断裂问题,进一步提升电源保护元件之整体可靠度与使用寿命。

技术关键重点

  • 焊点可靠度强化设计
  • 合金电镀结构补强技术
  • 抗突波应力分散机制
  • 绕线电阻失效点改善方案
  • 高可靠度电源应用导向设计
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抗突波绕线晶圆电阻规格书
抗突波绕线晶圆电阻规格书

SWM是业界少见可以直接使用SMT打件上板子的绕线电阻(MELF封装),内含多国专利保护。

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第一電阻公司简介

第一電阻電容器股份有限公司是台湾一家专业在电阻器生产制造的制造服务商. 成立于西元1969年并拥有超过56年的晶圆电阻,贴片电阻,金属膜电阻,浪涌电阻,绕线电阻,精密电阻,高压电阻,功率电阻,氧化金属膜,高频电阻,薄膜电阻,固定电阻制造经验,第一電阻总是可以达到客户各种品质的要求.